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利用根系分析仪研究缺磷胁迫下的大豆根系形态特征

   来源: 本站  类别:亚游官方网站  更新时间:2018-01-26  阅读次

根系作为作物的重要生长部位,历来都是为人们所重视的,而且随着根系分析仪的推广和应用,人们开展根系形态参数的测定等,更加方便和高效了,也为其他相关的研究工作提供了便利。比如说,在研究缺磷胁迫下的大豆根系形态特征的实验中,利用根系分析仪可以快速测定根系的形态特征参数,为最终结果的准确判定提供了科学的数据依据。

根系分析仪

磷是植物生长的必需元素之一,在生产过程中,由于自然土壤中的有效磷一般很难满足植物正常的生长需要,因此往往是需要通过施加磷肥来进行补充的,但是土壤中施加的磷肥量是否合适,并不容易控制。就大豆作物而言,如果土壤处于缺磷的状态下,那么大豆根系形态特征又会有哪些变化呢?通过根系分析仪的测定,我们可以找到答案。

一般来说,作物在生长过程中,如果土壤缺磷,那么作物根系往往会通过形态学的变化,如增加根的长度和粗细、扩大根毛和侧根的数量和密度等来使根系与土壤磷的接触面积增大,以提高作物对磷的吸收效率。而通过根系分析仪测定发现,在缺磷胁迫条件下,大豆的根长、跟表面积和根体积均较正常供磷条件下显著增加,这一变化表明,在缺磷胁迫条件下,大豆会通过改变其根系形态学来适应变化了的恶劣环境以满足生长需要,这其实就是大豆应对缺磷胁迫的适应性机制。

以上就是利用根系分析仪研究缺磷胁迫下的大豆根系形态特征,利用根系分析仪还可以针对于其他农作物、植物等展开有关的根系研究实验,对于了解根系与土壤环境、气候环境等的变化关系,具有重要的意义,是现代农业积累农业科学技术,实现农业科学发展的重要内容。

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